PHENOM Pure

Le MEB de table PHENOM PURE constitue l’outil idéal pour faire la transition entre la microscopie optique et la microscopie électronique. Ce microscope électronique dispose de l’équipement de base indispensable pour la réalisation d’images de haute résolution.

De plus, le temps d’attente entre le chargement de l’échantillon et l’obtention de l’image est le plus court par rapport aux autres systèmes. Grâce à la mise au point automatique de grande précision et à l’alignement de la source, il constitue l’appareil le plus convivial du marché. Pour les images MEB haute résolution, le PHENOM PURE représente l’instrument le plus efficace et le plus économique : il peut être manié par tous les collaborateurs du laboratoire après une formation minimale. Le concept « sans entretien » rend cet appareil unique dans sa catégorie.

  • Appareil d’entrée de gamme pour la réalisation d’images MEB de haute qualité
  • Plage de grossissement : 160-175 000 x
  • Résolution < 15 nm
  • Détecteur SED et EDS en options
  • Tension d’accélération : 5kV et 10kV
  • Modes vide poussé et vide dégradé
  • Facilité d’utilisation grâce aux réglages automatiques

Caractéristiques principales

Navigation ‘Never Lost’

L’utilisateur connaît toujours sa position sur l’échantillon grâce à la navigation unique ‘Never Lost’. Les vues d’ensemble des images optiques et électroniques fournissent des points de référence clairs à tout moment. Grâce à la platine motorisée intégrée, vous pouvez naviguer rapidement sur votre échantillon.

Simplicité d’utilisation

Les utilisateurs sont prêts à faire des analyses après seulement 10 minutes de formation de base. Une grande variété de porte-échantillons est disponible pour s’adapter à un large éventail d’échantillons. Le chargement des échantillons est rapide et sûr grâce à la technologie brevetée de chargement sous vide des échantillons.

Personnalisez votre MEB

Le MEB de table Phenom Pure peut être équipé avec deux systèmes de détection en option. Le premier est un système de spectroscopie à dispersion d’énergie (EDS) entièrement intégré. Le second est un détecteur d’électrons secondaires (SED) pour les applications qui nécessitent une imagerie sensible à la surface et à la topographie.