à balayage (MEB) PHENOM
PHENOM est un outil professionnel compact, robuste et
simple d’utilisation. Le MEB de table PHENOM donne un accès
direct à la haute résolution d’analyse ainsi qu’une qualité
d’images haute définition, nécessaires dans des domaines
d’applications variés. Le système associe un grossissement
maximal de 350 000x (systèmes CeB6) ou jusqu'à 1 000 000x
(système FEG) et des capacités techniques remarquables
en termes de profondeur de champs et de contraste chimique.
à balayage (MEB) PHENOM
PHENOM est un outil professionnel compact, robuste et
simple d’utilisation. Le MEB de table PHENOM donne un accès
direct à la haute résolution d’analyse ainsi qu’une qualité
d’images haute définition, nécessaires dans des domaines
d’applications variés. Le système associe un grossissement
maximal de 350 000x (systèmes CeB6) ou jusqu'à 1 000 000x
(système FEG) et des capacités techniques remarquables
en termes de profondeur de champs et de contraste chimique.
Le MEB de table PHENOM est une solution rapide, intelligente et accessible qui optimise les études des ingénieurs, des techniciens et des chercheurs sur des structures micrométriques et submicrométriques.
En bref, le microscope électronique à balayage de table PHENOM constitue la solution par excellence pour les laboratoires de R&D et de CQ.
MEB de table PHENOM
Une analyse exceptionnelle intégrant une qualité d’image phénoménale
Avec le MEB de table PHENOM, la microscopie électronique professionnelle est désormais à la portée de chaque laboratoire de R&D et de CQ à un prix abordable. Le MEB de table PHENOM offre des images haute résolution et dispose d’un module pour l’analyse chimique des éléments (EDS) dans une large gamme d’applications : pharmaceutique, biologique, matériaux, fibres, électronique, etc. Des logiciels de mesure complètent la gamme afin de déterminer de façon encore plus précise la taille des particules, des pores, le diamètre des fibres, la rugosité et la cartographie.
Extrêmement rapide et intuitif !
L’interface utilisateur intuitive du MEB de table PHENOM garantit des résultats de haute qualité et requiert une formation minimale. Un clic sur l’écran suffit pour obtenir des images de résolution supérieure ainsi qu’une analyse complète des éléments.
Le MEB de table PHENOM est équipé d’un microscope optique couleur qui fournit un aperçu continu de votre échantillon. Grâce à cette fonctionnalité « never lost » vous pouvez naviguer rapidement et aisément vers la zone à analyser de l’échantillon qui vous intéresse sans perdre pour autant la vue globale de celui-ci.
Chaque échantillon peut être fixé simplement dans un porte-échantillon spécifique à votre besoin. Après le chargement automatique, vous obtenez immédiatement une image optique et une image électronique en seulement 30 secondes.
Le MEB de table PHENOM est équipé d’une platine mobile selon 2 axes (X-Y), motorisée et pilotée par ordinateur, qui permet d’analyser et d’imager rapidement chaque emplacement sur l’échantillon.
Fonctionnalités étendues et intégrées
Tous les modèles de la gamme P-Series sont équipés d’une source CeB6 thermo-ionique haute brillance caractérisée par une longévité de plus de 1 500 heures. Elle permet d’obtenir des images haute résolution avec un grossissement jusqu’à 350 000 x. En revanche, le système Pharos est quant à lui équipé d’une source FEG qui permet un grossissement jusqu’à 1 000 000 x.
Contrairement à d’autres systèmes, l’ensemble du matériel et des logiciels (détecteur EDS, logiciel d’analyse d’éléments, détecteur de rétrodiffusion et de SE) a été entièrement développé par PHENOM WORLD et intégré dans le microscope électronique à balayage de table PHENOM.
Logiciels
Les systèmes MEB de table PHENOM peuvent être équipés d’un grand nombre de logiciels, parmi lesquels FiberMetric (mesures et classification automatiques de fibres et filtres), mesure de rugosité 3D, cartographie d’images automatique et ParticleMetric pour la mesure et la classification automatiques de la forme et de la taille de particules.
Cliquez ici pour consulter la liste complète des applications logicielles disponibles.
Porte-échantillons et accessoires
Une large gamme de porte-échantillons pour l’analyse MEB est également disponible. Ces porte-échantillons permettent d’analyser une plus grande variété d’échantillons. Outre les porte-échantillons pour le travail sous vide ou pour les mesures sur échantillons métallographiques, il existe également des versions avec système de refroidissement ou des modèles à inclinaison-rotation.
Cliquez ici pour un aperçu des porte-échantillons et accessoires disponibles.
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